E1 immunity development system

The equipment under test (EUT) needs modification if functional faults occur in burst and ESD pulse tests (IEC 61000-4-2 and IEC 61000-4-4) on electronic modules and devices.The E1 immunity development system is used to quickly and precisely determine the causes of functional faults within the EUT. The user is able to find out how and why the individual conducting tracks and components are influenced. This allows him/her to initiate the optimum corrective action directly on the circuit or